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场发射透射电子显微镜

仪器名称场发射透射电子显微镜

仪器型号tecnai g2 f20

生产厂家美国fei

检测项目形貌分析 成分分析 结构分析

仪器详情

技术参数

技术参数:

最大放大倍数: 105万倍 (1,050,000×)                          点分辨率: 0.24 nm

加速电压: 200kv                                                        极限(信息)分辨率:0.14 nm

stem分辨率:0.2nm                                                   最小束斑尺寸:0.2nm

物镜球差系数cs:1.2nm                                                 物镜色差系数cc:1.2nm

样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台                             最大倾转角:±40°

x射线能谱仪元素分析范围:b5u92                           x射线能谱仪能量分辨率: 130 ev

应用范围:

   tecnai g2 f20 s-twin 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200kv场发射透射电子显微镜。该仪器配备了stemedxhaadfccd等附件,能采集tem明场、暗场像和高分辨像,能进行选区电子衍射和汇聚束衍射,能进行edx能谱分析和高分辨stem原子序数像的分析,stem结合edx点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备,包括gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等,可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研,是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。

    利用它可进行:(1)形貌分析,它获得非晶材料的质厚衬度像,多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像),通过形貌分析可获得样品的形貌、粒 径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品进行进一步的表征;(2)结构分析,观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析,如:高分辨 晶格条纹像,选取电子衍射,会聚束电子衍射,z-衬度(原子序数)成像等。(3)成分分析:小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析,可对样品进行能谱点 测、能谱线扫、能谱面分布,获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。

 



费用标准

 

结果案例
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